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物理与电子工程学院邀请上海电力学院刘勇副教授来我校进行学术交流


发布部门:物理与电子工程学院  发布时间:2017-05-21  浏览次数:

            518,应我校物理与电子工程学院邀请,上海电力学院刘勇副教授在科学校区四教楼405会议室为物理与电子工程学院师生做了题为“基于光学相干层析的玻璃面板缺陷检测技术”的讲座。

           刘勇副教授从玻璃面板缺陷检测的研究背景出发,重点介绍OCT技术的基本概念, 阐述TD-OCTSD-OCTSS-OCT技术的基本原理和特征,说明基于SD-OCT的玻璃面板缺陷检测技术的可行性和存在问题,展望OCT技术在玻璃面板及其他材料缺陷检测中的应用及高性能方面的进展。刘教授鲜明生动深入浅出的讲解,受到了物理与电子工程学院教师的一致好评。

          OCT无损检测技术是刘勇副教授多年来潜心研究的重要成果,本次学术交流使我院教师了解到OCT无损检测技术的最新研究成果动态,有助于进一步开阔其学术视野。

专家简介:

      刘勇,中国光学学会高级会员,中国光学工程学会会员。浙江大学光电信息工程系博士后,曾先后赴台湾阳明大学、University of South Carolina访问研究,长期从事光学相干层析成像和光电检测技术的研究工作,目前已在J.OptOpt.Commun等国内外重要学术期刊发表学术论文20余篇,授权专利2项,主持参与过国家重大基础研究发展计划、国家自然科学基金项目和上海市自然科学基金等多个项目。

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